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日立SU-8010 二手掃描電鏡通過對樣品二次電子、背散射電子的采集，可進行物質微觀形貌和生物組織觀察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以進行微區的點、線、面掃描測試。 場發射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優點，性能有進一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像，明顯提升了以往很難觀測的低原子序數樣品。

二手 日立 SU8020 高分辨冷場發射電鏡具有的功能，適用于各種固態樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學組分綜合分析能力。

SU-8010 日立 二手冷場發射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理。可對金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學組分綜合分析能力。

二手 日立 S-4800冷場發射電鏡觀察和檢測體相及納米結構的固態無機材料（非磁性）等表面形貌和組成

二手 日立 S-4700 冷場發射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對樣品進行微區成分分析。

二手 日立 SU-8010 冷場發射電鏡真空系統采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設備的真空度高達10-8Torr。該設備在高倍模式下放大倍數100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時達到1.0nm，在加速電壓1KV時達到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

二手 日本電子 場發射電鏡SEM+EDX:場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征.

二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場發射電鏡 ?是一種優良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發射電子源和電子光學系統。場發射電鏡利用強電場作用，使得電子通過量子隧道效應逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統的熱發射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實現更高的分辨率。

二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點為全數字化控制系統，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業被廣泛使用。