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二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發射出的電流激發到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現對樣品表面的形貌的觀察。

二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有所提高

二手蔡司場發射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產品配備有經過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內二次電子探測器。SUPRA™系列場發射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導體事業部的納米技術系統部向市場推出的功能最多的場發射掃描電子顯微鏡。具有當前儀器所具有的所有特征：如在圖像質量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩定性、全分析型樣品室。

二手日立+日本電子掃描電鏡掃描電子顯微鏡SEM是一種電子顯微鏡，它通過用聚焦電子束掃描表面來產生樣品的圖像。電子與樣品中的原子相互作用，產生包含樣品表面形貌和成分信息的各種信號。電子束的掃描路徑形如光柵，將電子束的位置與檢測信號的強度相結合即可輸出圖像。在最常見的SEM模式下，探測器可以檢測到由電子束轟擊原子所激發的二次電子。不考慮其它因素，可以檢測到的二次電子數以及信號強度取決于樣品形貌。

二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學系統以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時，SE圖像可達7nm,5KV電壓時，BSE圖像可達10nm。最新開發的自動多級電子槍偏壓機構能夠在不降低電子束大小的情況下，在一定范圍內的常用加速電壓下增加發射電流。因此，此款產品與S-3400N相比，噪音得以大幅減少，成像更加清晰。

二手日立電鏡SU-3500日立高新高畫質的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質量更進一步。通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*進科技“。日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現了3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器。

二手日本電子JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。 使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，Live Analysis*²可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等，使它成為一個分析業務的軟件。

二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

二手蔡司場發射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

二手電鏡 二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發射出的電流激發到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現對樣品表面的形貌的觀察。